SOC测试机 (T系列)

SOC测试机 (T系列)

灵活、低成本的SOC测试机,用于MCU测试和Soc芯片的CP测试,支持外挂射频模块,内置图像采集功能。

SOC测试机  (E系列)

SOC测试机 (E系列)

灵活、高性价比的SOC测试机,用于Image Sensor、指纹、MCU、Soc Wafer Sort等的测试,支持外挂射频模块,内置图像采集功能。

PXIe测试机

PXIe测试机

灵活、高性价比的PXIe架构测试机,用于射频前端芯片、穿戴SIP封装芯片的测试。

EP2000系列 Handler

EP2000系列 Handler

Image Sensor专用分选机,支持并测16Site,调光源可满足车载、安防、手机等所有芯片的测试

EP3000系列SLT Handler

EP3000系列SLT Handler

系统测试分选机,支持SIP、PCBA等的高并测需求,最高支持128Site,支持常高温。

TS系列 射频测试机

TS系列 射频测试机

该 RF 测试系统为一套低成本,高灵活性,包含高功率和低功率的测试方案。可满足对 LNA,Switch 等射频芯片的低成本测试诉求,其中包含的 PXIe 机箱性能高、成本低、灵活易用、兼容性强。负载箱可灵活配置高功率和低功率模块。

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